在測量被透明物體覆蓋的目標時,環(huán)境照明補償和透視測量是提高測量準確性的重要手段。這些技術(shù)的應(yīng)用,在智能手機等電子設(shè)備的制造過程中,具有至關(guān)重要的作用。首先,讓我們來探討一下環(huán)境照明補償?shù)淖饔?。在生產(chǎn)線環(huán)境中,照明條件往往并不穩(wěn)定,這會對測量精度產(chǎn)生嚴重影響。環(huán)境照明補償技術(shù)通過自動調(diào)整傳感器參數(shù),以補償外部光照條件的變化,使得測量系統(tǒng)能在不同的照明條件下都能保持穩(wěn)定的測量性能。這就使得我們在測量被透明物體(如手機屏幕)覆蓋的目標時,能夠得到更為準確的結(jié)果。其次,透視測量技術(shù)則能夠解決透明物體對測量造成的干擾。由于透明物體會讓部分光線穿過,使得傳統(tǒng)的測量技術(shù)難以準確捕捉目標的位置和形狀。而透視測量技術(shù)則能夠通過特殊的光學(xué)設(shè)計和算法處理,使得傳感器能夠“看透”透明物體,直接對其背后的目標進行測量。這樣,我們就可以在不接觸目標的情況下,對其進行準確的測量。在智能手機等電子設(shè)備的制造過程中,這兩種技術(shù)都有著廣泛的應(yīng)用。例如,在手機屏幕的生產(chǎn)過程中,環(huán)境照明補償技術(shù)可以幫助我們確保屏幕在各種光線條件下都能顯示清晰。而透視測量技術(shù)則可以用于測量手機屏幕下的各種元器件,如觸摸屏、攝像頭等,確保它們的位置和尺寸都符合設(shè)計要求。此外,這兩種技術(shù)還可以結(jié)合使用,以提高測量的精度和效率。例如,我們可以先使用透視測量技術(shù)確定目標的位置,然后使用環(huán)境照明補償技術(shù)對其進行精確測量。這樣,我們不僅可以得到更準確...
發(fā)布時間:
2024
-
03
-
05
瀏覽次數(shù):148
激光三角測量法:精確測量透明物體的科技新突破在精密測量領(lǐng)域,激光三角測量法已成為一種非常重要的技術(shù)手段。這種測量方法尤其適用于透明物體的測量,因為它可以有效地解決透明物體測量中的諸多難題。本文將詳細介紹激光三角測量法的原理、步驟,以及折射率校正在此過程中所起到的關(guān)鍵作用。一、激光三角測量法的原理激光三角測量法是一種基于光學(xué)三角測量原理的非接觸式測量方法。其基本原理是:半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光束照射在目標物體上,接收器透鏡聚集目標物體反射的光線并聚焦到感光元件上。當目標物體與測量設(shè)備之間的距離發(fā)生改變時,通過接收器透鏡的反射光的位置也會相應(yīng)改變,光線聚焦在感光元件上的部分也會有所不同。通過精確測量這些變化,就可以得出目標物體的位移、形狀等參數(shù)。二、激光三角測量法的步驟設(shè)定參照距離:首先,需要設(shè)定一個參照距離,即在此距離下,激光束與感光元件之間的位置關(guān)系已知且穩(wěn)定。照射激光:然后,通過半導(dǎo)體激光器發(fā)出激光束,照射在待測的透明物體上。接收反射光:接收器透鏡會聚集從透明物體反射回來的光線,并將其聚焦到感光元件上。分析數(shù)據(jù):當透明物體移動或形狀發(fā)生變化時,反射光在感光元件上的位置也會發(fā)生變化。通過精確分析這些變化,就可以得出透明物體的位移、形狀等參數(shù)。三、折射率校正的作用在測量透明物體時,一個關(guān)鍵的問題是需要考慮光的折射現(xiàn)象。由于透明物體的折射率與空氣不同,光線在從空氣進入透明物體時會發(fā)生折射...
發(fā)布時間:
2024
-
03
-
05
瀏覽次數(shù):387
非接觸式激光位移傳感器在生產(chǎn)線上的應(yīng)用具有多方面的優(yōu)勢,下面將從精度、速度、可靠性、靈活性和安全性等方面進行逐一分析,并通過具體的應(yīng)用場景來說明其應(yīng)用價值。同時,還會與傳統(tǒng)的接觸式傳感器進行比較,以突顯非接觸式激光位移傳感器的獨特優(yōu)勢。精度:非接觸式激光位移傳感器采用激光三角測量法,具有極高的測量精度。例如,在半導(dǎo)體制造過程中,需要精確控制薄膜的厚度,非接觸式激光位移傳感器可以實現(xiàn)微米級的測量精度,從而確保產(chǎn)品質(zhì)量。相比之下,傳統(tǒng)接觸式傳感器可能會因為接觸力度的不同而影響測量精度。速度:非接觸式激光位移傳感器具有快速響應(yīng)的特點,可以在生產(chǎn)線上實現(xiàn)高速測量。例如,在包裝機械中,需要實時監(jiān)測包裝材料的位置和速度,非接觸式激光位移傳感器可以迅速捕捉到這些變化,從而確保包裝過程的順利進行。而傳統(tǒng)接觸式傳感器可能會因為接觸摩擦等因素而影響測量速度。可靠性:非接觸式激光位移傳感器無需與目標物體直接接觸,因此可以避免因摩擦、磨損等因素導(dǎo)致的傳感器損壞。此外,非接觸式傳感器還具有較好的抗干擾能力,可以在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中穩(wěn)定工作。相比之下,傳統(tǒng)接觸式傳感器更容易受到環(huán)境因素的影響而出現(xiàn)故障。靈活性:非接觸式激光位移傳感器可以適應(yīng)不同的測量需求,通過調(diào)整激光發(fā)射角度、接收透鏡焦距等參數(shù),可以實現(xiàn)不同距離、不同角度的測量。此外,非接觸式傳感器還可以與計算機、PLC等設(shè)備進行連接,實現(xiàn)自動化控制和數(shù)據(jù)處理...
發(fā)布時間:
2024
-
03
-
05
瀏覽次數(shù):209
白光干涉測厚儀是一種非接觸式測量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于測量晶圓上液體薄膜的厚度。其原理基于分光干涉原理,通過利用反射光的光程差來測量被測物的厚度。白光干涉測厚儀工作原理是將寬譜光(白光)投射到待測薄膜表面上,并分析返回光的光譜。被測物的上下表面各形成一個反射,兩個反射面之間的光程差會導(dǎo)致不同波長(顏色)的光互相增強或者抵消。通過詳細分析返回光的光譜,可以得到被測物的厚度信息。白光干涉測厚儀在晶圓水膜厚度測量中具有以下優(yōu)勢:1. 測量范圍廣:能夠測量幾微米到1mm左右范圍的厚度。2. 小光斑和高速測量:采用SLD(Superluminescent Diode)作為光源,具有小光斑和高速測量的特點,能夠?qū)崿F(xiàn)快速準確的測量。下面是使用白光干涉測厚儀測量晶圓上水膜厚度的詳細步驟:1. 準備工作:確保待測晶圓樣品表面清潔平整,無雜質(zhì)和氣泡。2. 參數(shù)設(shè)置:調(diào)整白光干測厚涉儀到合適的工作模式,并確定合適的測量參數(shù)和光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置。根據(jù)具體要求選擇光譜范圍、采集速度等參數(shù)。3. 樣品放置:將待測晶圓放置在白光干涉測厚儀的測量臺上,并固定好位置,使其與光學(xué)系統(tǒng)保持穩(wěn)定的接觸。確保樣品與測量臺平行,并避免外界干擾因素。4. 啟動測量:啟動白光干涉測厚儀,開始測量水膜厚度。通過記錄和分析返回光的光譜,可以得到晶圓上水膜的厚度信息。可以通過軟件實時顯示和記錄數(shù)據(jù)。5. 連續(xù)監(jiān)測:對于需要連續(xù)監(jiān)測晶圓上水膜厚度變...
發(fā)布時間:
2024
-
01
-
21
瀏覽次數(shù):500