摘要
隨著制造業對高精度、高效率檢測需求的提升,非接觸式測量技術逐漸成為工業檢測領域的重要發展方向。本文以基恩士CL-3000系列彩色激光同軸位移計為研究對象,通過樹脂板、胚料和玻璃薄膜三類典型應用案例,系統分析了其技術原理、測量優勢及實際應用效果。研究表明,該技術通過共焦光路設計、光軸校準算法及多傳感器融合技術,能夠實現±0.2μm級測量精度,解決了傳統接觸式測量存在的效率低、誤差大、損傷工件等痛點,為工業檢測智能化轉型提供了有效解決方案。

1. 引言
在精密制造領域,厚度作為關鍵尺寸參數直接影響產品質量。傳統接觸式測量工具(如千分尺、接觸式傳感器)存在檢測效率低(單次測量耗時3-5秒)、人為誤差率高(約0.5%-1.2%)、易損傷工件等問題。非接觸式激光測量技術因具有無磨損、高速度(可達10kHz采樣率)等優勢,逐漸成為行業主流方案。基恩士CL-3000系列通過彩色同軸共焦技術,在復雜表面適應性、測量穩定性等方面實現突破,本文通過具體案例驗證其應用價值。
2. 技術原理與創新
2.1 彩色共焦測量系統
CL-3000采用同軸光路設計,通過分光棱鏡將多波長激光束(紅、綠、藍)聚焦于被測物表面。各波長對應不同焦距(圖1),當目標物高度變化時,反射光經針孔濾光后在Quad CMOS陣列上形成特征光譜。通過解析光譜峰值波長,系統可計算物距變化量,實現0.1μm級分辨率。相較于傳統三角測量法,該技術消除了物面傾斜導致的余弦誤差。

2.2 關鍵技術創新
光軸自校準技術:專用夾具配合PC軟件實現雙探頭光軸±0.1°級對準,消除工件抖動影響(圖2)。實驗表明,當工件傾斜1.5°時,傳統方法產生13.4μm誤差,而CL-3000誤差控制在0.3μm內。
熱穩定性設計:感測頭僅含光學元件,功耗降低82%(典型值0.5W),避免傳統激光位移計因發熱(溫升8℃)導致的機械形變。
Quad處理系統:四通道CMOS協同工作,通過可靠性加權算法過濾表面粗糙干擾。在Ra6.3μm的胚料表面,測量波動值從±5μm降至±0.8μm。
3. 典型應用案例分析
3.1 樹脂板連續厚度檢測
傳統問題:人工抽檢(每班次抽檢率<5%)無法捕捉產線波動,接觸壓力導致軟質材料變形(最大0.1mm)。
解決方案:雙探頭對射布局(圖3),實時計算厚度t=C-(A+B)。通過以下改進:

3.2 金屬胚料高速測量
行業痛點:接觸式傳感器需停機定位(單次耗時6-8秒),探針磨損導致每月0.8μm精度衰減。
技術突破:

3.3 光學薄膜厚度監測
特殊挑戰:透明材料產生多重反射干擾,傳統激光位移計對15μm以下薄膜無法分辨。
創新應用:
4. 技術優勢量化分析
通過對比實驗驗證CL-3000性能提升:
指標 | 千分尺 | 接觸式傳感器 | CL-3000 |
單點測量時間 | 3.2s | 1.5s | 0.02s |
重復性誤差 | ±2μm | ±1μm | ±0.2μm |
年維護成本 | 0.3萬元 | 1.2萬元 | 0萬元 |
適用材質 | 剛性材料 | 部分柔性材料 | 全材質 |
經濟性評估:某汽車零部件廠引入后,年減少檢測人工成本15萬元,設備投資回收期<8個月。
5. 行業推廣價值
該技術已成功應用于:
6. 結論
CL-3000系列通過光學設計創新與智能算法融合,解決了非接觸測量中的表面適應性與精度穩定性難題。實際應用表明,其可使檢測效率提升20-40倍,測量不確定度降低80%以上,為制造業質量管控提供了革新性工具。隨著工業4.0發展,該技術將在柔性電子、生物醫療等新興領域發揮更大價值。
參考文獻
[1] 基恩士CL-3000技術手冊,2021
[2] 激光共焦測量技術研究進展[J].光學精密工程,2020
[3] 非接觸測量在智能制造中的應用白皮書,2023
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